ČSN EN 61967-4 (358798)

Integrované obvody - Měření elektromagnetických emisí, 150 kHz až 1 GHz - Část 4: Měření emisí šířených vedením - Metoda s přímou vazbou 1 Ω/150 Ω

ČSN EN 61967-4 Integrované obvody - Měření elektromagnetických emisí, 150 kHz až 1 GHz - Část 4: Měření emisí šířených vedením - Metoda s přímou vazbou 1 Ω/150 Ω
2 strany
(kliknutím zvětšíte)
Objednat


Cena: 335 Kč
včetně 15 % DPH
ks
skladem
tisk na počkání

Anotace obsahu normy

Tato část IEC 61967 specifikuje metodu jak měřit elektromagnetickou emisi (EME) šířenou vedením integrovaných obvodů přímým měřením vysokofrekvenčního proudu pomocí jednoohmové odporové sondy a měřením vysokofrekvenčního napětí pomocí sítě se 150ti ohmovou vazbou. Tyto metody zajišťují vysoký stupeň opakovatelnosti a vzájemného vztahu mezi měřeními EME.

Označení ČSN EN 61967-4 (358798)
Katalogové číslo 66106
Cena 65 Kč65
Datum schválení 1. 1. 2003
Datum účinnosti 1. 2. 2003
Jazyk angličtina (obsahuje českou národní předmluvu a informaci, kde je možno opatřit anglický originál)
Počet stran 4 strany formátu A4
EAN kód 8590963661063
Změny a opravy A1 10.06t, Oprava 1 6.07t, Oprava 2 1.18t
Dostupnost skladem (tisk na počkání)

Další příbuzné normy

ČSN EN 61967-1 (358798)
Integrované obvody - Měření elektromagnetických emisí, 150 kHz až 1 GHz - Část 1: Všeobecné podmínky a definice

ČSN EN 61967-2 (358798)
Integrované obvody - Měření elektromagnetických emisí, 150 kHz až 1 GHz - Část 2: Měření vyzařovaných emisí - Metoda dutiny TEM

ČSN EN 61967-5 (358798)
Integrované obvody - Měření elektromagnetických emisí, 150 kHz až 1 GHz - Část 5: Měření emisí šířených vedením - Metoda pracovního stolu s Faradayovou klecí

ČSN EN 61967-6 (358798)
Integrované obvody - Měření elektromagnetických emisí, 150 kHz až 1 GHz - Část 6: Měření emisí šířených vedením - Metoda s magnetickou sondou

ČSN EN 61967-8 (358798)
Integrované obvody - Měření elektromagnetických emisí - Část 8: Měření emisí šířených vyzařováním - Metoda zkušebního deskového vedení IC

ČSN EN IEC 61967-1 ed. 2 (358798)
Integrované obvody - Měření elektromagnetických emisí - Část 1: Obecné podmínky a definice