Tato část IEC 61967 specifikuje metodu vyhodnocení vysokofrekvenčních proudů na vývodech (pinech) integrovaných obvodů prostřednictvím bezdotykového měření proudu pomocí miniaturní magnetické sondy. Tato metoda je způsobilá k měření vysokofrekvenčních proudů generovaných integrovaným obvodem v kmitočtovém rozsahu 0,15 MHz až 1 000 MHz. Tato metoda je vhodná k měření jednotlivých integrovaných obvodů, nebo sady čipů integrovaných obvodů na normalizované zkušební desce pro účely popisu a porovnání. Lze ji také použít k ohodnocení elektromagnetických parametrů integrovaného obvodu nebo skupiny integrovaných obvodů pro účely snížení emise při aktuálním použití na desce plošných spojů. Tato metoda se jmenuje "metoda s magnetickou sondou".
Označení | ČSN EN 61967-6 (358798) |
---|---|
Katalogové číslo | 67092 |
Cena | 65 Kč65 |
Datum schválení | 1. 5. 2003 |
Datum účinnosti | 1. 6. 2003 |
Jazyk | angličtina (obsahuje českou národní předmluvu a informaci, kde je možno opatřit anglický originál) |
Počet stran | 4 strany formátu A4 |
EAN kód | 8590963670928 |
Změny a opravy | A1 10.08t, Oprava 1 6.11t |
Dostupnost | skladem (tisk na počkání) |
ČSN EN 61967-2 (358798)
Integrované obvody - Měření elektromagnetických emisí, 150 kHz až 1 GHz - Část 2: Měření vyzařovaných emisí - Metoda dutiny TEM
ČSN EN 61967-5 (358798)
Integrované obvody - Měření elektromagnetických emisí, 150 kHz až 1 GHz - Část 5: Měření emisí šířených vedením - Metoda pracovního stolu s Faradayovou klecí
ČSN EN 61967-8 (358798)
Integrované obvody - Měření elektromagnetických emisí - Část 8: Měření emisí šířených vyzařováním - Metoda zkušebního deskového vedení IC
ČSN EN IEC 61967-1 ed. 2 (358798)
Integrované obvody - Měření elektromagnetických emisí - Část 1: Obecné podmínky a definice
ČSN EN IEC 61967-4 ed. 2 (358798)
Integrované obvody - Měření elektromagnetických emisí - Část 4: Měření emisí šířených vedením, metoda s přímou vazbou 1 Ohm/150 Ohm
ČSN EN IEC 61967-8 ed. 2 (358798)
Integrované obvody - Měření elektromagnetických emisí - Část 8: Měření emisí šířených vyzařováním - Metoda zkušebního páskového vedení IC