Vážení zákazníci,
v období 12. do 27. února bude prodej norem přerušen z důvodu stěhování. Objednávky, které obdržíme do středy 11. února, odešlete do pátku 13. února. Pozdější objednávky vyřídíme až v pondělí 2. března. Osobní odběr bude, po domluvě termínu, možný do čtvrtka 12. února.
Děkujeme za pochopení.
ČSN EN 61967-6 (358798)
Integrované obvody - Měření elektromagnetických emisí, 150 kHz až 1 GHz - Část 6: Měření emisí šířených vedením - Metoda s magnetickou sondou
Anotace obsahu normy
Tato část IEC 61967 specifikuje metodu vyhodnocení vysokofrekvenčních proudů na vývodech (pinech) integrovaných obvodů prostřednictvím bezdotykového měření proudu pomocí miniaturní magnetické sondy. Tato metoda je způsobilá k měření vysokofrekvenčních proudů generovaných integrovaným obvodem v kmitočtovém rozsahu 0,15 MHz až 1 000 MHz. Tato metoda je vhodná k měření jednotlivých integrovaných obvodů, nebo sady čipů integrovaných obvodů na normalizované zkušební desce pro účely popisu a porovnání. Lze ji také použít k ohodnocení elektromagnetických parametrů integrovaného obvodu nebo skupiny integrovaných obvodů pro účely snížení emise při aktuálním použití na desce plošných spojů. Tato metoda se jmenuje "metoda s magnetickou sondou".
| Označení | ČSN EN 61967-6 (358798) |
|---|---|
| Katalogové číslo | 67092 |
| Cena | 65 Kč65 |
| Datum schválení | 1. 5. 2003 |
| Datum účinnosti | 1. 6. 2003 |
| Jazyk | angličtina (obsahuje českou národní předmluvu a informaci, kde je možno opatřit anglický originál) |
| Počet stran | 4 strany formátu A4 |
| EAN kód | 8590963670928 |
| Změny a opravy | A1 10.08t, Oprava 1 6.11t |
| Dostupnost | skladem (tisk na počkání) |
Další příbuzné normy
ČSN EN 61967-2 (358798)
Integrované obvody - Měření elektromagnetických emisí, 150 kHz až 1 GHz - Část 2: Měření vyzařovaných emisí - Metoda dutiny TEM
ČSN EN 61967-5 (358798)
Integrované obvody - Měření elektromagnetických emisí, 150 kHz až 1 GHz - Část 5: Měření emisí šířených vedením - Metoda pracovního stolu s Faradayovou klecí
ČSN EN 61967-8 (358798)
Integrované obvody - Měření elektromagnetických emisí - Část 8: Měření emisí šířených vyzařováním - Metoda zkušebního deskového vedení IC
ČSN EN IEC 61967-1 ed. 2 (358798)
Integrované obvody - Měření elektromagnetických emisí - Část 1: Obecné podmínky a definice
ČSN EN IEC 61967-4 ed. 2 (358798)
Integrované obvody - Měření elektromagnetických emisí - Část 4: Měření emisí šířených vedením, metoda s přímou vazbou 1 Ohm/150 Ohm
ČSN EN IEC 61967-8 ed. 2 (358798)
Integrované obvody - Měření elektromagnetických emisí - Část 8: Měření emisí šířených vyzařováním - Metoda zkušebního páskového vedení IC