Tato norma stanovuje obecné informace a definice pro měření elektromagnetického rušení šířeného vedením a vyzařovaného elektromagnetického rušení z integrovaných obvodů. Stanovuje také měřicí podmínky, zkušební zařízení, nastavení, stejně jako zkušební postupy a obsah zkušebních zpráv. Příloha A pomáhá při výběru vhodné zkušební metody (metod).
Předmětem této normy je stanovit obecné podmínky pro případ stanovení jednotného zkušebního prostředí a získat kvantitativní opatření proti RF rušení, které produkuje integrovaný obvod (IC). Stanovuje kritické parametry, které mají vliv na zkušební výsledky. Odchylky od této normy jsou uvedeny v individuální zkušební zprávě. Výsledky měření mohou být použity pro srovnání, nebo další účely.
Měření napětí a proudu, které doprovází RF emise šířené vedením nebo vyzářené RF rušení, které vychází z integrovaného obvodu za řízených podmínek, poskytuje informaci o možných RF rušeních při aplikaci integrovaného obvodu.
V každé části IEC 61967 je uveden vhodný kmitočtový rozsah.
Označení | ČSN EN IEC 61967-1 ed. 2 (358798) |
---|---|
Katalogové číslo | 507992 |
Cena | 440 Kč440 |
Datum schválení | 1. 7. 2019 |
Datum účinnosti | 1. 8. 2019 |
Jazyk | angličtina (obsahuje anglický text a českou titulní stranu) |
Počet stran | 40 stran formátu A4 |
EAN kód | 8596135079926 |
Tato norma nahradila | ČSN EN 61967-1 (358798) z prosince 2002 |
Dostupnost | skladem (tisk na počkání) |
ČSN EN 61967-2 (358798)
Integrované obvody - Měření elektromagnetických emisí, 150 kHz až 1 GHz - Část 2: Měření vyzařovaných emisí - Metoda dutiny TEM
ČSN EN 61967-5 (358798)
Integrované obvody - Měření elektromagnetických emisí, 150 kHz až 1 GHz - Část 5: Měření emisí šířených vedením - Metoda pracovního stolu s Faradayovou klecí
ČSN EN 61967-6 (358798)
Integrované obvody - Měření elektromagnetických emisí, 150 kHz až 1 GHz - Část 6: Měření emisí šířených vedením - Metoda s magnetickou sondou
ČSN EN 61967-8 (358798)
Integrované obvody - Měření elektromagnetických emisí - Část 8: Měření emisí šířených vyzařováním - Metoda zkušebního deskového vedení IC
ČSN EN IEC 61967-4 ed. 2 (358798)
Integrované obvody - Měření elektromagnetických emisí - Část 4: Měření emisí šířených vedením, metoda s přímou vazbou 1 Ohm/150 Ohm
ČSN EN IEC 61967-8 ed. 2 (358798)
Integrované obvody - Měření elektromagnetických emisí - Část 8: Měření emisí šířených vyzařováním - Metoda zkušebního páskového vedení IC