Tato norma specifikuje metodu, jak měřit emisi šířenou vedením (EME) integrovaných obvodů přímým měřením vysokofrekvenčního proudu pomocí 1 Ohm odporové sondy a měřením vysokofrekvenčního napětí pomocí 150 Ohm vazební sítě. Tyto metody zajišťují vysoký stupeň opakovatelnosti a vzájemný vztah naměřených výsledků EME.
Označení | ČSN EN IEC 61967-4 ed. 2 (358798) |
---|---|
Katalogové číslo | 513338 |
Cena | 550 Kč550 |
Datum schválení | 1. 10. 2021 |
Datum účinnosti | 1. 11. 2021 |
Jazyk | angličtina (obsahuje anglický text a českou titulní stranu) |
Počet stran | 52 stran formátu A4 |
EAN kód | 8596135133383 |
Tato norma nahradila | ČSN EN 61967-4 (358798) z ledna 2003 |
Dostupnost | skladem (tisk na počkání) |
ČSN EN 61967-2 (358798)
Integrované obvody - Měření elektromagnetických emisí, 150 kHz až 1 GHz - Část 2: Měření vyzařovaných emisí - Metoda dutiny TEM
ČSN EN 61967-5 (358798)
Integrované obvody - Měření elektromagnetických emisí, 150 kHz až 1 GHz - Část 5: Měření emisí šířených vedením - Metoda pracovního stolu s Faradayovou klecí
ČSN EN 61967-6 (358798)
Integrované obvody - Měření elektromagnetických emisí, 150 kHz až 1 GHz - Část 6: Měření emisí šířených vedením - Metoda s magnetickou sondou
ČSN EN 61967-8 (358798)
Integrované obvody - Měření elektromagnetických emisí - Část 8: Měření emisí šířených vyzařováním - Metoda zkušebního deskového vedení IC
ČSN EN IEC 61967-1 ed. 2 (358798)
Integrované obvody - Měření elektromagnetických emisí - Část 1: Obecné podmínky a definice
ČSN EN IEC 61967-8 ed. 2 (358798)
Integrované obvody - Měření elektromagnetických emisí - Část 8: Měření emisí šířených vyzařováním - Metoda zkušebního páskového vedení IC