Norma je identická s EN ISO 9220:1994. Stanoví metodu měření místní tloušťky kovových povlaků na výbrusu rastrovacím elektronovým mikroskopem (REM). Je to destruktivní metoda a její přesnost je lepší než 10 % nebo 0,1 µm (větší z obou čísel). Lze ji používat i pro povlaky o tloušťce do několika milimetrů, obvykle je však praktičtější použít světelný metalografický mikroskop (ISO 1463), pokud je to možné. Normalizována je podstata zkoušky, její postup je podrobně popsán. ČSN EN ISO 9220 (03 8187) byla vydána v lednu 1997.
Označení | ČSN EN ISO 9220 (038187) |
---|---|
Katalogové číslo | 20650 |
Cena | 190 Kč190 |
Datum schválení | 1. 1. 1997 |
Datum účinnosti | 1. 2. 1997 |
Jazyk | čeština |
Počet stran | 12 stran formátu A4 |
EAN kód | 8590963206509 |
Norma byla zrušena k | 1. 10. 2022 |
a nahrazena | ČSN EN ISO 9220 (038187) |
Dostupnost | skladem (tisk na počkání) |