ČSN EN ISO 9220 (038187)

Kovové povlaky. Měření tloušťky povlaku. Metoda rastrovacím elektronovým mikroskopem

ČSN EN ISO 9220 Kovové povlaky. Měření tloušťky povlaku. Metoda rastrovacím elektronovým mikroskopem
3 strany
(kliknutím zvětšíte)
Objednat
Cena: 190 Kč
včetně 15 % DPH
ks
skladem
tisk na počkání

Anotace obsahu normy

Norma je identická s EN ISO 9220:1994. Stanoví metodu měření místní tloušťky kovových povlaků na výbrusu rastrovacím elektronovým mikroskopem (REM). Je to destruktivní metoda a její přesnost je lepší než 10 % nebo 0,1 µm (větší z obou čísel). Lze ji používat i pro povlaky o tloušťce do několika milimetrů, obvykle je však praktičtější použít světelný metalografický mikroskop (ISO 1463), pokud je to možné. Normalizována je podstata zkoušky, její postup je podrobně popsán. ČSN EN ISO 9220 (03 8187) byla vydána v lednu 1997.

Označení ČSN EN ISO 9220 (038187)
Katalogové číslo 20650
Cena 190 Kč190
Datum schválení 1. 1. 1997
Datum účinnosti 1. 2. 1997
Jazyk čeština
Počet stran 12 stran formátu A4
EAN kód 8590963206509
Dostupnost skladem (tisk na počkání)