Vážení zákazníci,
aby bylo možné dodat objednané zboží před začátkem vánočních svátků, odešleme poslední várku zboží v tomto roce v pátek 19. prosince. Objednávky došlé po 10. hodině 19. prosince odešleme až 5. ledna 2026. Od 19. prosince do 2. ledna taktéž nebude možný osobní odběr objednaných norem.
Děkujeme za váš zájem v tomto roce,
přejeme vám hodně zdraví, pohody a úspěchů v roce 2026.
Norma specifikuje destruktivní metodu měření místní tloušťky kovových a jiných anorganických povlaků na výbrusu rastrovacím elektronovým mikroskopem. Tato metoda je použitelná pro povlaky o tloušťce do několika milimetrů, pro takové povlaky o velké tloušťce je však obvykle praktičtější použít světelný mikroskop. Dolní mez tloušťky závisí na dosažené nejistotě měření.
Tuto metodu lze použít i pro organické povlaky, jestliže při přípravě výbrusu ani působením elektronového paprsku při zobrazení nedojde k jejich poškození.
| Označení | ČSN EN ISO 9220 (038187) |
|---|---|
| Katalogové číslo | 515719 |
| Cena | 230 Kč230 |
| Datum schválení | 1. 9. 2022 |
| Datum účinnosti | 1. 10. 2022 |
| Jazyk | čeština |
| Počet stran | 20 stran formátu A4 |
| EAN kód | 8596135157198 |
| Tato norma nahradila | ČSN EN ISO 9220 (038187) z ledna 1997 |
| Dostupnost | skladem (tisk na počkání) |