Norma specifikuje destruktivní metodu měření místní tloušťky kovových a jiných anorganických povlaků na výbrusu rastrovacím elektronovým mikroskopem. Tato metoda je použitelná pro povlaky o tloušťce do několika milimetrů, pro takové povlaky o velké tloušťce je však obvykle praktičtější použít světelný mikroskop. Dolní mez tloušťky závisí na dosažené nejistotě měření.
Tuto metodu lze použít i pro organické povlaky, jestliže při přípravě výbrusu ani působením elektronového paprsku při zobrazení nedojde k jejich poškození.
| Označení | ČSN EN ISO 9220 (038187) |
|---|---|
| Katalogové číslo | 515719 |
| Cena | 230 Kč230 |
| Datum schválení | 1. 9. 2022 |
| Datum účinnosti | 1. 10. 2022 |
| Jazyk | čeština |
| Počet stran | 20 stran formátu A4 |
| EAN kód | 8596135157198 |
| Tato norma nahradila | ČSN EN ISO 9220 (038187) z ledna 1997 |
| Dostupnost | skladem (tisk na počkání) |