Norma specifikuje destruktivní metodu měření místní tloušťky kovových a jiných anorganických povlaků na výbrusu rastrovacím elektronovým mikroskopem. Tato metoda je použitelná pro povlaky o tloušťce do několika milimetrů, pro takové povlaky o velké tloušťce je však obvykle praktičtější použít světelný mikroskop. Dolní mez tloušťky závisí na dosažené nejistotě měření.
Tuto metodu lze použít i pro organické povlaky, jestliže při přípravě výbrusu ani působením elektronového paprsku při zobrazení nedojde k jejich poškození.
Označení | ČSN EN ISO 9220 (038187) |
---|---|
Katalogové číslo | 515719 |
Cena | 230 Kč230 |
Datum schválení | 1. 9. 2022 |
Datum účinnosti | 1. 10. 2022 |
Jazyk | čeština |
Počet stran | 20 stran formátu A4 |
EAN kód | 8596135157198 |
Tato norma nahradila | ČSN EN ISO 9220 (038187) z ledna 1997 |
Dostupnost | skladem (tisk na počkání) |