Tato norma stanoví zkušební a měřicí postupy pro relativní intenzitní šum (RIN). Používá se pro lasery, laserové vysílače a vysílací části vysílačů-přijímačů. Tímto postupem se vyšetřuje, zda zařízení nebo moduly vyhovují odpovídající funkční specifikaci. Postup je použitelný pro podélný jednovid (SLM). Dílčí část postupu zavádí řízený útlum odrazu do zkoušeného zařízení, ale je použitelná jen u zařízení, navázaných na jednovidové vlákno (SMF). Popsaná metoda, využívající detekční systém v časové oblasti, poskytuje jednu hodnotu RIN, která průměruje šum v přenosovém pásmu. Alternativní metoda měření RIN, která využívá fotoelektrický přijímač a elektrický spektrální analyzátor, poskytuje závislost RIN na elektrickém kmitočtu. Tato metoda je založena na měření celkového šumu a nepokouší se oddělovat účinky tepelného a výstřelového šumu. Norma obsahuje informativní přílohu A, kde je popsáno pozadí intenzitního šumu laseru.
Označení | ČSN EN 62150-4 (359277) |
---|---|
Katalogové číslo | 86296 |
Cena | 340 Kč340 |
Datum schválení | 1. 7. 2010 |
Datum účinnosti | 1. 8. 2010 |
Jazyk | angličtina (obsahuje anglický text a českou titulní stranu) |
Počet stran | 28 stran formátu A4 |
EAN kód | 8590963862965 |
Dostupnost | skladem (tisk na počkání) |
ČSN EN 62150-1 (359277)
Optické vláknové aktivní součástky a zařízení - Zkušební a měřicí postupy - Část 1: Všeobecně a návod
ČSN EN 62150-2 ed. 2 (359277)
Optické vláknové aktivní součástky a zařízení - Zkušební a měřicí postupy - Část 2: Vysílače-přijímače ATM-PON
ČSN EN 62150-3 ed. 2 (359277)
Optické vláknové aktivní součástky a zařízení - Zkušební a měřicí postupy - Část 3: Kolísání optického výkonu vyvolané mechanickým rušením v optických zásuvkách a rozhraních vysílačů-přijímačů
ČSN EN 62150-5 (359277)
Optické vláknové aktivní součástky a zařízení - Zkušební a měřicí postupy - Část 5: Doba ladění kanálu vlnové délky laditelných vysílačů
ČSN EN IEC 62150-6 (359277)
Optické vláknové aktivní součástky a zařízení - Základní zkušební a měřicí postupy - Část 6: Univerzální mezaninové desky pro zkoušení a měření fotonických zařízení