Vážení zákazníci,
aby bylo možné dodat objednané zboží před začátkem vánočních svátků, odešleme poslední várku zboží v tomto roce ve čtvrtek 19. prosince. Objednávky došlé po 11. hodině 19. prosince odešleme až 2. ledna 2025.
Děkujeme za váš zájem v tomto roce,
přejeme vám hodně zdraví, pohody a úspěchů v roce 2025.
Tato část normy se týká nehermetických SMD pouzder, která jsou vystavena pájení přetavením a jsou pod vlivem okolního vzduchu.
Účelem tohoto dokumentu je poskytnout výrobcům SMD součástek a jejich uživatelům normalizované metody pro manipulaci, balení, značení, a přepravu SMD součástek, které jsou citlivé na vlhkost a přetavení. Jedná se o součástky tříděné do skupin podle IEC 60749-20. Popisované metody předcházejí zničení součástek nebo snížení jejich spolehlivosti v důsledku absorpce vlhkosti a vlivu přetavovací teploty. Aplikací těchto podmínek je možno dosáhnout bezpečného a kvalitního přetavení. Předpokládá se použití uzavřených suchých obalů, které při dodržení data trvanlivosti garantují minimální kvalitu.
Norma IEC 60749-20 specifikuje dvě testovací metody, metodu A a metodu B pro test teplem. U metody A jsou vnější podmínky vlhkosti vzduchu nastaveny tak, aby vlhkost uvnitř obalu nepřekročila 30% RH. U metody B jsou vnější podmínky vlhkosti vzduchu nastaveny tak, aby vlhkost uvnitř obalu nepřekročila 10%, a doba působení vlhkosti nebyla delší než 24 hodin. SMD součástky testované metodou A připouští absorpci vlhkosti do 30%, metodou B připouští absorpci vlhkosti 10%. Tato norma určuje podmínky manipulace a předepisuje manipulaci s SMD součástkami za výše uvedených podmínek.
POZNÁMKA: Hermetická pouzdra SMD nejsou citlivá na vlhkost a při manipulaci s nimi není třeba brát na vlhkost ohled.
Označení | ČSN EN 60749-20-1 (358799) |
---|---|
Katalogové číslo | 84771 |
Cena | 440 Kč440 |
Datum schválení | 1. 12. 2009 |
Datum účinnosti | 1. 1. 2010 |
Jazyk | angličtina (obsahuje anglický text a českou titulní stranu) |
Počet stran | 40 stran formátu A4 |
EAN kód | 8590963847719 |
Dostupnost | skladem (tisk na počkání) |
ČSN EN 60749-1 (358799)
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 1: Všeobecná ustanovení
ČSN EN 60749-10 (358799)
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 10: Mechanické údery
ČSN EN 60749-11 (358799)
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 11: Rychlá změna teploty - Metoda dvou lázní
ČSN EN 60749-14 (358799)
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 14: Pevnost vývodů (neporušenost přívodů)
ČSN EN 60749-16 (358799)
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 16: Zjišťování šumu způsobeného nárazem částic (PIND)
ČSN EN 60749-19 (358799)
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 19: Zkouška pevnosti čipu střihem
ČSN EN 60749-2 (358799)
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 2: Nízký tlak vzduchu
ČSN EN 60749-21 ed. 2 (358799)
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 21: Pájitelnost
ČSN EN 60749-22 (358799)
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 22: Pevnost spoje
ČSN EN 60749-23 (358799)
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 23: Zkouška životnosti při zvýšené teplotě