Vánoční provoz a PF 2025
Vážení zákazníci,
aby bylo možné dodat objednané zboží před začátkem vánočních svátků, odešleme poslední várku zboží v tomto roce ve čtvrtek 19. prosince. Objednávky došlé po 11. hodině 19. prosince odešleme až 2. ledna 2025.
Děkujeme za váš zájem v tomto roce,
přejeme vám hodně zdraví, pohody a úspěchů v roce 2025.
ČSN EN 62132-3 (358798) Zrušená norma
Integrované obvody - Měření elektromagnetické odolnosti, 150 kHz až 1GHz - Část 3: Metody injekce velkého proudu (BCI)
Pokud byste ji přesto chtěli zajistit, vyplňte prosím poptávkový formulář.
Anotace obsahu normy
Norma popisuje měření odolnosti integrovaných obvodů (IC) za přítomnosti RF rušení šířených vedením, metodou injekce velkého proudu (BCI), které jsou například důsledkem vyzařovaných RF rušení. Používá se pro integrované obvody připojené vedením (např. uvnitř kabelového svazku).
Norma zakládá společnou bázi pro ohodnocení polovodičových prvků, které se používají v zařízeních umísťovaných do prostředí, kde jsou vystaveny nežádoucím elektromagnetickým signálům.
| Označení | ČSN EN 62132-3 (358798) |
|---|---|
| Katalogové číslo | 80859 |
| Cena | 440 Kč440 |
| Datum schválení | 1. 4. 2008 |
| Datum účinnosti | 1. 5. 2008 |
| Jazyk | angličtina (obsahuje anglický text a českou titulní stranu) |
| Počet stran | 48 stran formátu A4 |
| EAN kód | 8590963808598 |
| Norma byla zrušena k | 1. 2. 2022 |
| Dostupnost | skladem (tisk na počkání) |
Další příbuzné normy
ČSN EN 62132-1 ed. 2 (358798)
Integrované obvody - Měření elektromagnetické odolnosti - Část 1: Obecné podmínky a definice
ČSN EN 62132-2 (358798)
Integrované obvody - Měření elektromagnetické odolnosti - Část 2: Měření odolnosti proti vyzařování - Metoda dutiny TEM a širokopásmové dutiny TEM
ČSN EN 62132-4 (358798)
Integrované obvody - Měření elektromagnetické odolnosti, 150 kHz až 1 GHz - Část 4: Metoda přímé injekce RF výkonu
ČSN EN 62132-5 (358798)
Integrované obvody - Měření elektromagnetické odolnosti, 150 kHz až 1 GHz - Část 5: Metoda pracovní Faradayovy klece
ČSN EN 62132-8 (358798)
Integrované obvody - Měření elektromagnetické odolnosti - Část 8: Měření odolnosti proti vyzařování - Metoda IC s páskovým vedením