Tato norma poskytuje obecné informace a definice o měření odolnosti integrovaných obvodů (IC) proti rušením šířeným vedením a proti rušením vyzařovaným elektromagnetickými poli. Norma rovněž poskytuje popis podmínek měření, zkušebního vybavení a sestavy a rovněž zkušebních postupů a obsahu protokolů o zkoušce pro všechny části souboru IEC 62132. Informativní příloha A obsahuje srovnávací tabulku zkušebních metod pro usnadnění výběru příslušné metody (příslušných metod) zkoušení. Informativní příloha B obecný popis zkušební desky.
Označení | ČSN EN 62132-1 ed. 2 (358798) |
---|---|
Katalogové číslo | 500070 |
Cena | 440 Kč440 |
Datum schválení | 1. 6. 2016 |
Datum účinnosti | 1. 7. 2016 |
Jazyk | angličtina (obsahuje anglický text a českou titulní stranu) |
Počet stran | 40 stran formátu A4 |
EAN kód | 8596135000708 |
Tato norma nahradila | ČSN EN 62132-1 (358798) z listopadu 2006 |
Dostupnost | skladem (tisk na počkání) |
ČSN EN 62132-2 (358798)
Integrované obvody - Měření elektromagnetické odolnosti - Část 2: Měření odolnosti proti vyzařování - Metoda dutiny TEM a širokopásmové dutiny TEM
ČSN EN 62132-4 (358798)
Integrované obvody - Měření elektromagnetické odolnosti, 150 kHz až 1 GHz - Část 4: Metoda přímé injekce RF výkonu
ČSN EN 62132-5 (358798)
Integrované obvody - Měření elektromagnetické odolnosti, 150 kHz až 1 GHz - Část 5: Metoda pracovní Faradayovy klece
ČSN EN 62132-8 (358798)
Integrované obvody - Měření elektromagnetické odolnosti - Část 8: Měření odolnosti proti vyzařování - Metoda IC s páskovým vedením