Vážení zákazníci,
v období 12. do 27. února bude prodej norem přerušen z důvodu stěhování. Objednávky, které obdržíme do středy 11. února, odešlete do pátku 13. února. Pozdější objednávky vyřídíme až v pondělí 2. března. Osobní odběr bude, po domluvě termínu, možný do čtvrtka 12. února.
Děkujeme za pochopení.
Tento oddíl IEC 835-2-8 se zabývá metodami měření adaptivních ekvalizerů používaných v mikrovlnných radioreléových systémech. Tato měření jsou určena ke zjištění vlastností ekvalizeru systému za přítomnosti selektivního úniku, ale mohou se také provádět na systémech bez adaptivních ekvalizerů. Aby bylo možno vzít v úvahu vlastnosti systému, které jsou obzvláště ovlivňovány použitím ekvalizerů pracujících v kmitočtové a/nebo časové oblasti, jsou výsledky měření systému uváděny takzvanými příznaky. Doplňková měření poskytují další možnosti přesného popisu činnosti systému.
| Označení | ČSN EN 60835-2-8 (367630) |
|---|---|
| Katalogové číslo | 21399 |
| Cena | 230 Kč230 |
| Datum schválení | 1. 5. 1997 |
| Datum účinnosti | 1. 6. 1997 |
| Jazyk | čeština |
| Počet stran | 20 stran formátu A4 |
| EAN kód | 8590963213996 |
| Změny a opravy | A1 3.98t |
| Norma byla zrušena k | 1. 9. 2023 |
| Dostupnost | skladem (tisk na počkání) |