Vážení zákazníci,
v období 12. do 27. února bude prodej norem přerušen z důvodu stěhování. Objednávky, které obdržíme do středy 11. února, odešlete do pátku 13. února. Pozdější objednávky vyřídíme až v pondělí 2. března. Osobní odběr bude, po domluvě termínu, možný do čtvrtka 12. února.
Děkujeme za pochopení.
This document relates to a measurement method for complex permittivity of dielectric substrates at microwave and millimeter-wave frequencies. This method has been developed to evaluate the dielectric properties of low-loss materials used in microwave and millimeter-wave circuits and devices. It uses higher-order modes of a balanced-type circular disk resonator and provides broadband measurements of dielectric substrates by using one resonator, where the effect of excitation holes and that of fringing fields are taken into account accurately on the basis of the mode-matching analysis.
| Označení | ČSN EN IEC 63185 ed. 2 (353012) |
|---|---|
| Katalogové číslo | 521811 |
| Cena | 340 Kč340 |
| Datum schválení | 1. 9. 2025 |
| Datum účinnosti | 1. 10. 2025 |
| Jazyk | angličtina (obsahuje pouze anglický originál) |
| Počet stran | 24 stran formátu A4 |
| EAN kód | 8596135218110 |
| Tato norma nahradila | ČSN EN IEC 63185 (353012) z července 2021 |
| Dostupnost | skladem (tisk na počkání) |