Vážení zákazníci,
v období 12. do 27. února bude prodej norem přerušen z důvodu stěhování. Objednávky, které obdržíme do středy 11. února, odešlete do pátku 13. února. Pozdější objednávky vyřídíme až v pondělí 2. března. Osobní odběr bude, po domluvě termínu, možný do čtvrtka 12. února.
Děkujeme za pochopení.
ČSN EN IEC 63202-1 (364662)
Fotovoltaické články - Část 1: Měření degradace způsobené světlem fotovoltaických článků z krystalického křemíku
(kliknutím zvětšíte)
Anotace obsahu normy
ČSN EN IEC 63202-1 (36 4662)
This part of IEC 63202 describes procedures for measuring the light-induced degradation (LID) of crystalline silicon photovoltaic (PV) cells in simulated sunlight. The magnitude of LID in a crystalline silicon PV cell is determined by comparing maximum output power at Standard Test Conditions (STC) before, and after, exposure to simulated sunlight at a specified temperature and irradiance. The purpose of this document is to provide standardized PV cell LID information to help PV module manufacturers in minimizing the mismatch between cells within the same module, thereby maximizing power yield.
| Označení | ČSN EN IEC 63202-1 (364662) |
|---|---|
| Katalogové číslo | 509003 |
| Cena | 230 Kč230 |
| Datum schválení | 1. 3. 2020 |
| Datum účinnosti | 1. 4. 2020 |
| Jazyk | angličtina (obsahuje pouze anglický originál) |
| Počet stran | 20 stran formátu A4 |
| EAN kód | 8596135090037 |
| Dostupnost | skladem (tisk na počkání) |