ČSN EN IEC 63202-1 (364662)

Fotovoltaické články - Část 1: Měření degradace způsobené světlem fotovoltaických článků z krystalického křemíku

ČSN EN IEC 63202-1 Fotovoltaické články - Část 1: Měření degradace způsobené světlem fotovoltaických článků z krystalického křemíku
titulní stránka
(kliknutím zvětšíte)
Objednat
Cena: 230 Kč
včetně 10 % DPH
ks
skladem
tisk na počkání

Anotace obsahu normy

ČSN EN IEC 63202-1 (36 4662)

This part of IEC 63202 describes procedures for measuring the light-induced degradation (LID) of crystalline silicon photovoltaic (PV) cells in simulated sunlight. The magnitude of LID in a crystalline silicon PV cell is determined by comparing maximum output power at Standard Test Conditions (STC) before, and after, exposure to simulated sunlight at a specified temperature and irradiance. The purpose of this document is to provide standardized PV cell LID information to help PV module manufacturers in minimizing the mismatch between cells within the same module, thereby maximizing power yield.

Označení ČSN EN IEC 63202-1 (364662)
Katalogové číslo 509003
Cena 230 Kč230
Datum schválení 1. 3. 2020
Datum účinnosti 1. 4. 2020
Jazyk angličtina (obsahuje pouze anglický originál)
Počet stran 20 stran formátu A4
EAN kód 8596135090037
Dostupnost skladem (tisk na počkání)