Vážení zákazníci,
v období 12. do 27. února bude prodej norem přerušen z důvodu stěhování. Objednávky, které obdržíme do středy 11. února, odešlete do pátku 13. února. Pozdější objednávky vyřídíme až v pondělí 2. března. Osobní odběr bude, po domluvě termínu, možný do čtvrtka 12. února.
Děkujeme za pochopení.
ČSN EN IEC 62884-3 (358492)
Metody měření piezoelektrických, dielektrických a elektrostatických oscilátorů - Část 3: Zkušební metody stárnutí kmitočtu
(kliknutím zvětšíte)
Anotace obsahu normy
This part of IEC 62884 describes the methods for the measurement and evaluation of frequency aging tests of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators, including Dielectric Resonator Oscillators (DRO) and oscillators using FBAR (hereinafter referred to as "Oscillator"). The purpose of those tests is to provide statistical data supporting aging predictions.
| Označení | ČSN EN IEC 62884-3 (358492) |
|---|---|
| Katalogové číslo | 505366 |
| Cena | 340 Kč340 |
| Datum schválení | 1. 10. 2018 |
| Datum účinnosti | 1. 11. 2018 |
| Jazyk | angličtina (obsahuje pouze anglický originál) |
| Počet stran | 24 stran formátu A4 |
| EAN kód | 8596135053667 |
| Dostupnost | skladem (tisk na počkání) |
Další příbuzné normy
ČSN EN 62884-1 (358492)
Technika měření piezoelektrických, dielektrických a elektrostatických oscilátorů - Část 1: Základní metody měření
ČSN EN 62884-2 (358492)
Techniky měření piezoelektrických, dielektrických a elektrostatických oscilátorů - Část 2: Metoda měření krátkodobé nestability fáze
ČSN EN IEC 62884-4 (358492)
Metody měření piezoelektrických, dielektrických a elektrostatických oscilátorů - Část 4: Zkušební metody krátkodobé stability kmitočtu