ČSN EN 60444-8 ed. 2 (358490) Aktuální vydání

Měření parametrů křemenných krystalových jednotek - Část 8: Zkušební přípravek pro křemenné krystalové jednotky pro povrchovou montáž

ČSN EN 60444-8 ed. 2 Měření parametrů křemenných krystalových jednotek - Část 8: Zkušební přípravek pro křemenné krystalové jednotky pro povrchovou montáž
2 strany
(kliknutím zvětšíte)
Objednat
Cena: 340 Kč
včetně 0 % DPH
ks
skladem
tisk na počkání

Anotace obsahu normy

Tato norma popisuje zkušební přípravky vhodné pro křemenné krystalové jednotky pro povrchovou montáž, které jsou definovány v souboru norem IEC 61837. Tato zařízení umožňují měření rezonanční kmitočtu, rezonančního odporu a parametrů elektrického obvodu L1, C1 a C0 za užití měřící techniky uvedené v normě IEC 60444-5 a pro stanovení zatížení rezonančního kmitočtu a odporu podle IEC/TR 60444-4 a IEC 60444-11.

Označení ČSN EN 60444-8 ed. 2 (358490)
Katalogové číslo 503320
Cena 340 Kč340
Datum schválení 1. 9. 2017
Datum účinnosti 1. 10. 2017
Jazyk angličtina (obsahuje anglický text a českou titulní stranu)
Počet stran 24 stran formátu A4
EAN kód 8596135033201
Tato norma nahradila ČSN EN 60444-8 (358490) z července 2004
Dostupnost skladem (tisk na počkání)

Další příbuzné normy

ČSN EN 60444-1 (358490)
Měření parametrů křemenných krystalových jednotek technikou nulové fáze v pí-článku - Část 1: Základní metoda měření rezonančního kmitočtu a rezonanční rezistance křemenných krystalových jednotek technikou nulové fáze v pí-článku

ČSN EN 60444-11 (358490)
Měření parametrů křemenných krystalových jednotek - Část 11: Normalizovaná metoda určení rezonančního kmitočtu s impedanční zátěží fL a efektivní zatěžovací kapacity CLeff použitím techniky automatického obvodového analyzátoru a opravy chyb

ČSN EN 60444-2 (358490)
Měření parametrů křemenných krystalových jednotek technikou nulové fáze v pí-článku - Část 2: Měření dynamické kapacitance křemenných krystalových jednotek metodou fázového ofsetu

ČSN EN 60444-4 (358490)
Měření parametrů křemenných krystalových jednotek technikou nulové fáze v pí-článku - Část 4: Metoda měření rezonančního kmitočtu s impedančním zatížením fL, rezonanční rezistance s impedančním zatížením RL a výpočet dalších odvozených parametrů křemenných krystalových jednotek až do 30 MHz

ČSN EN 60444-5 (358490)
Měření parametrů křemenných krystalových jednotek - Část 5: Metody určení náhradních elektrických parametrů použitím technik automatického obvodového analyzátoru a korekce chyb

ČSN EN 60444-7 (358490)
Měření parametrů křemenných krystalových jednotek - Část 7: Měření náhlých změn aktivity a kmitočtu křemenných krystalových jednotek

ČSN EN 60444-9 (358490)
Měření parametrů křemenných krystalových jednotek - Část 9: Měření vedlejších (parazitních) rezonancí piezoelektrických krystalových jednotek

ČSN EN IEC 60444-6 ed. 3 (358490)
Měření parametrů křemenných krystalových jednotek - Část 6: Měření závislosti na úrovni buzení (DLD)

foo