ČSN EN IEC 61967-4 ed. 2 (358798)

Integrované obvody - Měření elektromagnetických emisí - Část 4: Měření emisí šířených vedením, metoda s přímou vazbou 1 Ohm/150 Ohm

ČSN EN IEC 61967-4 ed. 2 Integrované obvody - Měření elektromagnetických emisí - Část 4: Měření emisí šířených vedením, metoda s přímou vazbou 1 Ohm/150 Ohm
2 strany
(kliknutím zvětšíte)
Objednat
Cena: 550 Kč
včetně 0 % DPH
ks
skladem
tisk na počkání

Anotace obsahu normy

Tato norma specifikuje metodu, jak měřit emisi šířenou vedením (EME) integrovaných obvodů přímým měřením vysokofrekvenčního proudu pomocí 1 Ohm odporové sondy a měřením vysokofrekvenčního napětí pomocí 150 Ohm vazební sítě. Tyto metody zajišťují vysoký stupeň opakovatelnosti a vzájemný vztah naměřených výsledků EME.

Označení ČSN EN IEC 61967-4 ed. 2 (358798)
Katalogové číslo 513338
Cena 550 Kč550
Datum schválení 1. 10. 2021
Datum účinnosti 1. 11. 2021
Jazyk angličtina (obsahuje anglický text a českou titulní stranu)
Počet stran 52 stran formátu A4
EAN kód 8596135133383
Tato norma nahradila ČSN EN 61967-4 (358798) z ledna 2003
Dostupnost skladem (tisk na počkání)

Další příbuzné normy

ČSN EN 61967-2 (358798)
Integrované obvody - Měření elektromagnetických emisí, 150 kHz až 1 GHz - Část 2: Měření vyzařovaných emisí - Metoda dutiny TEM

ČSN EN 61967-5 (358798)
Integrované obvody - Měření elektromagnetických emisí, 150 kHz až 1 GHz - Část 5: Měření emisí šířených vedením - Metoda pracovního stolu s Faradayovou klecí

ČSN EN 61967-6 (358798)
Integrované obvody - Měření elektromagnetických emisí, 150 kHz až 1 GHz - Část 6: Měření emisí šířených vedením - Metoda s magnetickou sondou

ČSN EN 61967-8 (358798)
Integrované obvody - Měření elektromagnetických emisí - Část 8: Měření emisí šířených vyzařováním - Metoda zkušebního deskového vedení IC

ČSN EN IEC 61967-1 ed. 2 (358798)
Integrované obvody - Měření elektromagnetických emisí - Část 1: Obecné podmínky a definice

ČSN EN IEC 61967-8 ed. 2 (358798)
Integrované obvody - Měření elektromagnetických emisí - Část 8: Měření emisí šířených vyzařováním - Metoda zkušebního páskového vedení IC

foo