ČSN EN 61967-6 (358798)

Integrované obvody - Měření elektromagnetických emisí, 150 kHz až 1 GHz - Část 6: Měření emisí šířených vedením - Metoda s magnetickou sondou

ČSN EN 61967-6 Integrované obvody - Měření elektromagnetických emisí, 150 kHz až 1 GHz - Část 6: Měření emisí šířených vedením - Metoda s magnetickou sondou
2 strany
(kliknutím zvětšíte)
Objednat


Cena: 425 Kč
včetně 0 % DPH
ks
skladem
tisk na počkání

Anotace obsahu normy

Tato část IEC 61967 specifikuje metodu vyhodnocení vysokofrekvenčních proudů na vývodech (pinech) integrovaných obvodů prostřednictvím bezdotykového měření proudu pomocí miniaturní magnetické sondy. Tato metoda je způsobilá k měření vysokofrekvenčních proudů generovaných integrovaným obvodem v kmitočtovém rozsahu 0,15 MHz až 1 000 MHz. Tato metoda je vhodná k měření jednotlivých integrovaných obvodů, nebo sady čipů integrovaných obvodů na normalizované zkušební desce pro účely popisu a porovnání. Lze ji také použít k ohodnocení elektromagnetických parametrů integrovaného obvodu nebo skupiny integrovaných obvodů pro účely snížení emise při aktuálním použití na desce plošných spojů. Tato metoda se jmenuje "metoda s magnetickou sondou".

Označení ČSN EN 61967-6 (358798)
Katalogové číslo 67092
Cena 65 Kč65
Datum schválení 1. 5. 2003
Datum účinnosti 1. 6. 2003
Jazyk angličtina (obsahuje českou národní předmluvu a informaci, kde je možno opatřit anglický originál)
Počet stran 4 strany formátu A4
EAN kód 8590963670928
Změny a opravy A1 10.08t, Oprava 1 6.11t
Dostupnost skladem (tisk na počkání)

Další příbuzné normy

ČSN EN 61967-2 (358798)
Integrované obvody - Měření elektromagnetických emisí, 150 kHz až 1 GHz - Část 2: Měření vyzařovaných emisí - Metoda dutiny TEM

ČSN EN 61967-4 (358798)
Integrované obvody - Měření elektromagnetických emisí, 150 kHz až 1 GHz - Část 4: Měření emisí šířených vedením - Metoda s přímou vazbou 1 Ω/150 Ω

ČSN EN 61967-5 (358798)
Integrované obvody - Měření elektromagnetických emisí, 150 kHz až 1 GHz - Část 5: Měření emisí šířených vedením - Metoda pracovního stolu s Faradayovou klecí

ČSN EN 61967-8 (358798)
Integrované obvody - Měření elektromagnetických emisí - Část 8: Měření emisí šířených vyzařováním - Metoda zkušebního deskového vedení IC

ČSN EN IEC 61967-1 ed. 2 (358798)
Integrované obvody - Měření elektromagnetických emisí - Část 1: Obecné podmínky a definice

ČSN EN IEC 61967-4 ed. 2 (358798)
Integrované obvody - Měření elektromagnetických emisí - Část 4: Měření emisí šířených vedením, metoda s přímou vazbou 1 Ohm/150 Ohm

ČSN EN IEC 61967-8 ed. 2 (358798)
Integrované obvody - Měření elektromagnetických emisí - Část 8: Měření emisí šířených vyzařováním - Metoda zkušebního páskového vedení IC

foo